Компания Jasco в своих сканирующих оптических наноспектрометрах ближнего поля предоставила возможность преодолеть дифракционный предел и изучать нанообъекты.
Благодаря появлению серии NFS-220FT/320FT стало возможным регистрировать излучение с длинами волн, превышающими 1 мкм. Это достигается применением высокочувствительного ИК-Фурье спектрометра с детектором InGaAs, что было невозможным для кремниевого детектора.
В сканирующем оптическом микроскопе ближнего поля источник излучения с пространственным разрешением меньшим, чем длина волны, используется в качестве сканирующего зонда. Зонд сканирует поверхность образца на высоте в несколько нанометров, пьезоэлектрический манипулятор поддерживает зазор между зондом и поверхностью с помощью системы обратной связи между датчиком и блоком электроники. На выходе конуса зонда имеется небольшое отверстие, оптоволоконный световод покрыт золотом. Облучая образец с помощью источника "ближнего поля", создаваемого диафрагмой зонда, можно получать оптические изображения с пространственным разрешением от 50 нм, преодолевая "дифракционный предел".
Программный модуль "Image Manager":
Модуль управления изображением позволяет получить трехмерную картину высокого разрешения, включая и топологию поверхности образца.
При отображении интенсивности и площали сигналов пиков/распределения, а также значения полуширины, программный модуль позволяет получить удивительно реалистичные 3D изображения.
Кроме того, становится возможным эффективно извлекать необходимую информацию с помощью различных функций обработки изображений и инструментов анализа больших объемов экспериментальных данных.
Серия NFS-220FT/320FT включает в себя 2 модели:
Режимы измерения |
Излучение-накопление, накопление, возбуждение от внешнего источника, |
Встроенный лазер |
Зеленый лазер 532 нм |
Внешний лазер |
Возможно два источника возбуждения (включая встроенный) |
Переключение оптического пути | Автоматическое переключение управляющей программой |
ИК-Фурье спектрометр | Диапазон длин волн: 850-1500 нм Спектральное разрешение: 1 нм (если размер образца 1 мкм) Детектор: InGaAs 90° интерферометр Майкельсона Светоделители: Si на CaF2 |
Предметный столик |
20 х 20 мкм, высота 8 мкм |
Управление |
ПК с ОС Windows |
Связь с ПК |
16-разрядный АЦП |
Получение изображений |
Система видеозахвата |
Программное обеспечение |
Модуль обратной связи сигнала и картирования ближнего поля |
Охлаждение исследуемого образца |
Криостат (NFS-320FT) |
Доступ к зонду |
2 окна (спереди и справа) |
Размер системы |
1600 (Ш) х 750 (Г)х 1500 (В) мм |
Вес |
Основной блок: 80 кг |
Электропитание |
220 В переменного тока ± 10%, 250 ВА (основной блок), 130 ВА (ИК-Фурье спектрометр), 100 ВА (ПК) |
Другие требования |
Азот или воздух для виброизоляционного стола, от 0,3 до 0,8 МПа |